ძებნა
გაფართოებული ძებნა

Focus Ion Beam Scanning Electron Microscope For Inspection And Edx Analysis Of 200Mm Wafers - Pr468071 -2390 - W

საკონტრაქტო ხელშეკრულება

ზოგადი ინფორმაცია
   ოქტ 1, 2024
   გერმანული
   სხვა
   გამოქვეყნებულია: ოქტ 1, 2024

თავდაპირველი ტექსტი

TED 00590245-2024 - Result















Help Print Share





Share ×

Facebook X/Twitter LinkedIn Email

Cancel





.ted-toolbar {
display: flex;
}

.ted-mini-toolbar {
display: flex;
margin-bottom: 22px;
margin-left: auto;
}

.ted-help,
.ted-download,
.ted-print,
.ted-social-share {
background: none;
border: none;...
გაწევრიანების ვარიანტები

ბაზისური

სრული

კორპორაციული

$550/year

$1000/year

ხარჯი მოთხოვნითი

ყიდვა ყიდვა დაგვიკავშირდით

Contract award information
   TESCAN GmbH
გთხოვთ გაითვალისწინოთ, რომ ეს შეტყობინება მხოლოდ თქვენთვისაა.
ჩვენ მაქსიმალურად ვცდილობთ, რომ ჩვენს ვებ-კვანძზე განთავსებული ინფორმაცია იყოს ზუსტი და განახლებული, ამავე დროს არ ვიძლევით გარანტიას, რომ მოცემული ინფორმაცია დაზღვეულია შეცდომებისაგან.
თუ თქვენ გაქვთ რაიმე შემოთავაზება ამ განაცხადის განახლებასთან/შესწორებასთან დაკავშირებით, გთხოვთ შეგვატყობინოთ.